Рентгеновские аппараты, ООО
Поставка аналитических приборов
Компания
Продукция
Услуги
Презентация
Статьи
Контакты

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7, ДРОН-7M

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 способен решать широкий круг задач порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов.

ДРОН-7 внесен в Государственный реестр средств измерения России под No 31927-11, Украины под No 31927-11, Казахстана под No KZ.02.03.04172-2011/ 31927-11, Беларусии под No РБ 03 11 4655 11. ДРОН-7М внесен в Государственный реестр средств измерения России под No 56571-14.

Технические характеристики

Гониометр
Тип
Рентгенооптическая схема
Радиус R, мм
Диапазоны углов, град

θ
Режимы сканирования
Методы сканирования
Минимальный шаг сканирования, град
Скорость сканирования, град/мин
Воспроизводимость, град
с
Транспортная скорость, град/мин
Горизонтальный 2θ-θ
Брэгга-Брентано/ Дебая-Шеррера/ параллельно-лучевая
200

от -100 до 165
от -180 до 180
пошаговый/ непрерывный
θ-2θ, 2θ, θ, 2θ-Ω
0.001
от 0.1 до 50
±0.005 (ДРОН-7) 
±0.0025 (ДРОН-7М)
720
Система регистрации (базовая)
Тип детектора
Скорость счета, имп/с
сцинтилляционный NaI (Tl)
до 500 000
Высоковольтный источник питания
Мощность, кВт
Напряжение, кВ
Ток, мА
Стабильность анодного тока и напряжения, %
Охлаждение
3
0-60
0-80
0,01
воздушное
Рентгеновская трубка (базовая)
Тип
Размер фокуса, мм
Охлаждение
2,5БСВ-27Cu
10 х 1.6
водяное (3 л/мин)
Эксплуатационные характеристики
Установочная площадь, м2
Потребляемая мощность, кВА
Масса, кг
Питание, B/Гц
Габаритные размеры (Д х Ш х В), мм
5
5,5
470
однофазное 220/50
1050 х 1100 х 1800

Схема работы

Область применения

Порошковая дифрактометрия в геометриях

Область применения:

  • Горнодобывающая промышленность
  • Минералогия
  • Машиностроение
  • Энергетика
  • Нефтегазовая отрасль
  • Химическая промышленность
  • Криминалистика
  • Судебная медицина
  • Фармакология
  • Кристаллография
  • Наноиндустрия
  • Экспертиза культурных ценностей
  • Экология

Решаемые задачи:

  • Качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических материалов и объектов.
  • Определение степени кристалличности, размеров кристаллитов и микродеформаций решетки дисперсных материалов.
  • Определение типа и метрики кристаллической решетки, анализ структуры поликристаллов.
  • Исследование фазовых переходов, химических реакций и термических деформаций кристаллической решетки при изменении внешних условий (температуры, давления, влажности, газовой среды, вакуума).

Анализ остаточных напряжений, текстур

Область применения:

  • Металлургия 
  • Машиностроение
  • Электроника
  • Технические кристаллы

Решаемые задачи:

  • Определение преимущественной ориентации частиц в металлах и других поликристаллических материалах и объектах.
  • Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.
  • Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.

Анализ структуры тонких пленок

Область применения:

  • Микроэлектроника
  • Наноэлектроника

Решаемые задачи:

  • Определение состава, толщины, рассогласования и дефектов слоев в тонких пленках, эпитаксиальных и наногетероструктурах.
  • Контроль качества материалов для микро- и наноэлектроники.

Исследование структуры

Область применения:

  • Катализ     
  • Коллоидная химия
  • Электроника
  • Молекулярная биология
  • Автомобиле- и самолетостроение
    (пластики и полимеры)
  • Защита магистральных трубопроводов и кабельная промышленность
  • Упаковочная промышленность (нанокомпозиты и пленки)

Решаемые задачи:

  • Определение формы, размера, фазового состава, внутренней структуры, ориентации и распределения наноразмерных элементов в поверхностно-активных веществах, эмульсиях
    (в.т.ч. в биологических средах), волокнах, катализаторах, полимерах, нанокомпозитах, жидких кристаллах и других дисперсных системах.

Лицензии и сертификаты

Дополнительные опции

ДЕРЖАТЕЛИ ОБРАЗЦОВ, ПРИСТАВКИ и КАМЕРЫ
Держатель монолитных образцов. 
Предназначен для установки образцов толщиной до 10 мм и длиной до 100 мм.
Держатель цилиндрических образцов (капилляров) диаметром 0,1-1,0 мм. Предназначен для измерений в геометрии Дебая-Шеррера.
Приставка ПГТМ 
Приставка для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и для экспрессного определения ориентации небольших монокристаллов диаметром до 28 мм. Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца: 
- поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°, 
- наклон по оси χ - от 3 до +70° 
В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и методом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении.
Высокотемпературные камеры (до 1200°С ) для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий.
Вакуумная система 
Вакуумная система является дополнительным устройством для высокотемпературной камеры и имеет в комплекте два вакуумных насоса: роторный и турбомолекулярный для создания высокого (<8x10-9 мбар) и низкого (<2x10-3 мбар) вакуума внутри высокотемпературной камеры.
Автосменщик образцов на 6 позиций для потокового измерения порошковых или монолитных образцов (диаметром до 28 мм) на дифрактометре.
СИСТЕМЫ РЕГИСТРАЦИИ
Система регистрации рентгеновского излучения на основе линейного позиционно-чувствительного стрипового детектора. 
Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным детектором (несколько минут вместо нескольких часов измерений для получения хорошей статистики данных). В систему также входит коллимационная система на дифрагированном пучке и ловушка первичного пучка для обеспечения измерений на ближних углах (с 3 град.). Особенно эффективно использовать СБР для плохо окристаллизованных, быстро разлагающихся объектов или при малых количествах вещества. Незаменима при in situ исследованиях химических реакций и фазовых превращений в сочетании с высоко-и низкотемпературными приставками и при сборе данных для анализа остаточных напряжений.
Система регистрации рентгеновского излучения на основе твердотельного энергодисперсионного детектора с Пельтье-охлаждением. 
Предназначена для регистрации монохроматизированного рентгеновского излучения без рентгенофлуоресцентного фона. 
По энергетическому спектру выбирается нужный диапазон регистрации (обычно К-альфа линия). Все остальные составляющие спектра не регистрируются. Бета-фильтр и монохроматор не требуются. Результат – увеличение интенсивности в 2 раза и увеличение контрастности в 30-40 раз.
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ
Универсальный держатель монохроматора на падающем пучке.
Универсальный держатель монохроматора на дифрагированном пучке.
Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов.
Одномерное параболическое зеркало для перехода в параллельно-лучевую геометрию.
ДРУГИЕ ОПЦИИ
Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град.
Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr)
Щели Соллера с расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора.
Бета-фильтры для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора.

Программное обеспечение

Предварительная обработка DrWin 

• Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента 
• Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой) 
• Разделение K-дуплетов 
• Определение угловых положений 
• Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика) 
• Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов 
• Расчет ПШПВ рефлексов
Количественный анализ Quan 

• Полный анализ многофазной смеси 
• Анализ n-компонентной системы 
• Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения 
Метод внутреннего стандарта 
• Метод корундовых чисел 
• Метод добавок 
• Метод разбавления
Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain 

• Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов 
• Расчет инструментального фактора 
• Учет поглощения при использовании эталона другого состава
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern 

• Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным 
• Учет инструментального фактора 
• Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы 
• Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной 
• Встроенный пакет математической кристаллографии
Автоиндицирование Ind 

• Определение типа решетки Браве 
• Выбор элементарной ячейки 
• Расчет индексов дифракционных отражений 
• Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы
Метод Ритвельда Rietveld 

• Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца 
• Расчет полиномиального и физического фона 
• Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов 
• Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы 
• Выбор стратегии уточнения 
Управление условиями уточнения 
• Расчет пяти R-факторов
Расчет макронапряжений MacroStress 

• Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика 
• Нахождение матрицы поправок 
• Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений 
Расчет погрешностей напряжений
Терморентгенография Thermo 

• 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура» 
• Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту 
• Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных 
Определение точек фазовых переходов 
• Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций
Построение фигур КТР
Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match 

• Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD) 
• Автоматический или ручной алгоритм поиска< 
• Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска 
• Возможность добавления собственных стандартов в подбазы
• Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам) 
• Анализ совпавших линий по положению и интенсивности 
• Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел 
• Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям

Видео

Фильм. Применение дифрактометра ДРОН-7 в авиационной промышленности

Видео. Система быстрой регистрации для ДРОН 7

Отправьте запрос и наши специалисты помогут подобрать
наилучшее решение для Ваших исследовательских задач

Ваш запрос успешно отправлен!
Мы свяжемся с Вами в самое ближайшее время.

К сожалению, не удалось отправить запрос.
Попробуйте ещё раз или свяжитесь с нами по телефону.