Рентгеновские аппараты, ООО
Поставка аналитических приборов
Компания
Продукция
Услуги
Презентация
Статьи
Контакты

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.

Аппарат ДРОН-8 имеет более высокие технические и эксплуатационные характеристики по сравнению с выпускающейся сейчас моделью ДРОН-7. Гониометр имеет переменный радиус (180-250 мм), воспроизводимость углового положения не превышает 0.001 град., предусмотрена автоматическая юстировка плоскости образца; реализовано шесть алгоритмов независимых и синхронных перемещений трубки и детектора, что покрывает все известные методы рентгенодифракционного анализа. В число опций, которые возможны для аппарата ДРОН-7, добавлен четырехосный держатель больших образцов (xy-сканирование, z-перемещение, φ-поворот), что позволит исследовать крупногабаритные объекты различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.

Внесен в Государственный реестр средств измерения России под No 40594-14,       Украины под No 40594-09, Казахстана под No KZ.02.03.06212-2014/ 40594-14,       Беларусии под No РБ 03 11 4688 11.

Технические характеристики

Гониометр
Тип
Рентгенооптическая схема
Радиус R, мм
Диапазоны углов, град

θD
θF
Режимы сканирования
Методы сканирования
Минимальный шаг сканирования, град
Скорость сканирования, град/мин
Воспроизводимость, град
Транспортная скорость, град/мин
Горизонтальный θ-θ
Брэгга-Брентано/ Дебая-Шеррера/ параллельно-лучевая
180-250

от -10 до 165 (до 169 при R=200 мм)
от -5 до 165
от -5 до 95
пошаговый/ непрерывный
θ-θ, θ, Ω, 2θ-Ω, Ψ, sin2Ψ
0.0005
от 0.1 до 50
±0.001
600
Система регистрации (базовая)
Тип детектора
Скорость счета, имп/с
сцинтилляционный NaI (Tl)
до 500 000
Высоковольтный источник питания
Мощность, кВт
Напряжение, кВ
Ток, мА
Стабильность анодного тока и напряжения, %
Охлаждение
3
0-60
0-80
0,01
воздушное
Рентгеновская трубка (базовая)
Тип
Размер фокуса, мм
Охлаждение
2,5БСВ-27Cu
10 х 1.6
водяное (3 л/мин)
Эксплуатационные характеристики
Установочная площадь, м2
Потребляемая мощность, кВА
Масса, кг
Питание, B/Гц
Габаритные размеры (Д х Ш х В), мм
5
5,5
750
однофазное 220/50
1350 х 1200 х 2250

Схема работы

Область применения

Порошковая дифрактометрия в геометриях

Область применения:

  • Горнодобывающая промышленность
  • Минералогия
  • Машиностроение
  • Энергетика
  • Нефтегазовая отрасль
  • Химическая промышленность
  • Криминалистика
  • Судебная медицина
  • Фармакология
  • Кристаллография
  • Наноиндустрия
  • Экспертиза культурных ценностей
  • Экология

Решаемые задачи:

  • Качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических материалов и объектов.
  • Определение степени кристалличности, размеров кристаллитов и микродеформаций решетки дисперсных материалов.
  • Определение типа и метрики кристаллической решетки, анализ структуры поликристаллов.
  • Исследование фазовых переходов, химических реакций и термических деформаций кристаллической решетки при изменении внешних условий (температуры, давления, влажности, газовой среды, вакуума).

Анализ остаточных напряжений, текстур

Область применения:

  • Металлургия 
  • Машиностроение
  • Электроника
  • Технические кристаллы

Решаемые задачи:

  • Определение преимущественной ориентации частиц в металлах и других поликристаллических материалах и объектах.
  • Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.
  • Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.

Анализ структуры тонких пленок

Область применения:

  • Микроэлектроника
  • Наноэлектроника

Решаемые задачи:

  • Определение состава, толщины, рассогласования и дефектов слоев в тонких пленках, эпитаксиальных и наногетероструктурах.
  • Контроль качества материалов для микро- и наноэлектроники.

Исследование структуры

Область применения:

  • Катализ     
  • Коллоидная химия
  • Электроника
  • Молекулярная биология
  • Автомобиле- и самолетостроение
    (пластики и полимеры)
  • Защита магистральных трубопроводов и кабельная промышленность
  • Упаковочная промышленность (нанокомпозиты и пленки)

Решаемые задачи:

  • Определение формы, размера, фазового состава, внутренней структуры, ориентации и распределения наноразмерных элементов в поверхностно-активных веществах, эмульсиях
    (в.т.ч. в биологических средах), волокнах, катализаторах, полимерах, нанокомпозитах, жидких кристаллах и других дисперсных системах.

Лицензии и сертификаты

Дополнительные опции

ДЕРЖАТЕЛИ ОБРАЗЦОВ, ПРИСТАВКИ и КАМЕРЫ
Четырехосный xyzφ держатель больших образцов. 
Используется для анализа фазового состава и структурных характеристик крупногабаритных объектов различной формы и размера, в том числе при сканировании по поверхности, а также для определения ориентации монокристаллов, анализа текстур и остаточных напряжений в режимах Ω, Ω-φ, 2Θ-Ω, ψ и sin2ψ. 
Позволяет проводить измерения образцов весом до 50 кг, диаметром до 300 мм и высотой до 250 мм. Автоматическая юстировка плоскости образца по датчику положения в пределах ±20 мм с точностью 5 мкм. Точность φ-поворота 0,001 град. xy-перемещение по плоскости образца в пределах ±50 мм с дискретностью 0.1 мм. Можно устанавливать стандартную кювету с порошком при необходимости.
Приставка ПГТМ 
Приставка для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и для экспрессного определения ориентации небольших монокристаллов диаметром до 28 мм. Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца: 
- поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°, 
- наклон по оси χ - от 3 до +70° 
В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и методом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении.
Высокотемпературные камеры (до 1200°С ) для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий.
Вакуумная система 
Вакуумная система является дополнительным устройством для высокотемпературной камеры и имеет в комплекте два вакуумных насоса: роторный и турбомолекулярный для создания высокого (<8x10-9 мбар) и низкого (<2x10-3 мбар) вакуума внутри высокотемпературной камеры.
Автосменщик образцов на 6 позиций для потокового измерения порошковых или монолитных образцов (диаметром до 28 мм) на дифрактометре.
СИСТЕМЫ РЕГИСТРАЦИИ
Система регистрации рентгеновского излучения на основе линейного позиционно-чувствительного стрипового детектора. 
Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным детектором (несколько минут вместо нескольких часов измерений для получения хорошей статистики данных). В систему также входит коллимационная система на дифрагированном пучке и ловушка первичного пучка для обеспечения измерений на ближних углах (с 3 град.). Особенно эффективно использовать СБР для плохо окристаллизованных, быстро разлагающихся объектов или при малых количествах вещества. Незаменима при in situ исследованиях химических реакций и фазовых превращений в сочетании с высоко-и низкотемпературными приставками и при сборе данных для анализа остаточных напряжений.
Система регистрации рентгеновского излучения на основе твердотельного энергодисперсионного детектора с Пельтье-охлаждением. 
Предназначена для регистрации монохроматизированного рентгеновского излучения без рентгенофлуоресцентного фона. 
По энергетическому спектру выбирается нужный диапазон регистрации (обычно К-альфа линия). Все остальные составляющие спектра не регистрируются. Бета-фильтр и монохроматор не требуются. Результат – увеличение интенсивности в 2 раза и увеличение контрастности в 30-40 раз.
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ
Универсальный держатель монохроматора на падающем пучке.
Универсальный держатель монохроматора на дифрагированном пучке.
Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов.
Одномерное параболическое зеркало для перехода в параллельно-лучевую геометрию.
Монохроматор Бартельса (четырехкратный прорезной Ge 220) на первичном пучке, позволяет получать монохроматическую Kα1 линию с угловым разрешением не более 6 угл.сек. Применяется для перехода в геометрию высокого разрешения.
Монохроматор прорезной с переменной кратностью (от 1 до 5) устанавливается на первичном пучке, позволяет получать монохроматическую Kα или Kα1 линию. Применяется для малоугловых исследований и рефлексометрии.
ДРУГИЕ ОПЦИИ
Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град.
Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr)
Щели Соллера с расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора.
Бета-фильтры для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора.

Программное обеспечение

Предварительная обработка DrWin 

• Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента 
• Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой) 
• Разделение K-дуплетов 
• Определение угловых положений 
• Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика) 
• Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов 
• Расчет ПШПВ рефлексов
Количественный анализ Quan 

• Полный анализ многофазной смеси 
• Анализ n-компонентной системы 
• Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения 
Метод внутреннего стандарта 
• Метод корундовых чисел 
• Метод добавок 
• Метод разбавления
Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain 

• Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов 
• Расчет инструментального фактора 
• Учет поглощения при использовании эталона другого состава
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern 

• Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным 
• Учет инструментального фактора 
• Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы 
• Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной 
• Встроенный пакет математической кристаллографии
Автоиндицирование Ind 

• Определение типа решетки Браве 
• Выбор элементарной ячейки 
• Расчет индексов дифракционных отражений 
• Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы
Метод Ритвельда Rietveld 

• Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца 
• Расчет полиномиального и физического фона 
• Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов 
• Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы 
• Выбор стратегии уточнения 
Управление условиями уточнения 
• Расчет пяти R-факторов
Расчет макронапряжений MacroStress 

• Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика 
• Нахождение матрицы поправок 
• Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений 
Расчет погрешностей напряжений
Терморентгенография Thermo 

• 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура» 
• Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту 
• Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных 
Определение точек фазовых переходов 
• Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций
Построение фигур КТР
Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match 

• Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD) 
• Автоматический или ручной алгоритм поиска< 
• Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска 
• Возможность добавления собственных стандартов в подбазы
• Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам) 
• Анализ совпавших линий по положению и интенсивности 
• Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел 
• Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям

Видео

ДРОН-8

Отправьте запрос и наши специалисты помогут подобрать
наилучшее решение для Ваших исследовательских задач

Ваш запрос успешно отправлен!
Мы свяжемся с Вами в самое ближайшее время.

К сожалению, не удалось отправить запрос.
Попробуйте ещё раз или свяжитесь с нами по телефону.